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MF-A3017B日本三豐工具測量顯微鏡MF-A3017B

日本三豐工具測量顯微鏡MF-A3017B 它能對應明視野、明暗視野、偏光、微分干涉等各式各樣的被測物之觀察評估。　有同等級顯微鏡中更大的載物臺（400×200㎜），并設(shè)計有大范圍量測時很方便的快速移動裝置。　　 Z軸附有高精度的光學尺。　　在Z軸的兩側(cè)都裝有對焦旋鈕，及內(nèi)藏式X、Y軸歸零按鍵等，亦是重視操作性的新設(shè)計。　處理系統(tǒng)搭配二次元資料A25D使用，尺寸量測更簡易。

更新日期：2025-01-09廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商瀏覽量：2755
176-861供應日本mitutoyo三豐測量顯微鏡MF-A1010D

供應日本mitutoyo三豐測量顯微鏡MF-A1010D 特點可觀察清晰無閃爍正像，且視場開闊。測量精度在同類設(shè)備中高（符合JIS B 7153標準）。使用ML系列，專門為MF系列設(shè)計的高NA物鏡（長工作距離型）。照明裝置（反射/透射）可選用高亮度LED燈泡或鹵素燈泡。利用可變孔徑光闌（反射/透射）可進行無衍射觀察測量。各類尺寸的標準工作臺，z大達到400*200mm。

更新日期：2025-01-08廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商瀏覽量：3782
378日本三豐Mituyoyo顯微鏡——物鏡378 系列

日本三豐Mituyoyo顯微鏡——物鏡378 系列 ? M/BD Plan Apo （M Plan Apochromat 亮視場）系列具有在整個視野中實現(xiàn)高彩色再現(xiàn)性所需的圖像均勻度。 ? 以下物鏡支持波長范圍廣，包括近紫外、可見和紫外激光。專業(yè) LCD 激光物鏡 : M/LCDPlan NIR （-HR）系列（用于超長工作距離激光加工的近紫外校正透鏡）

更新日期：2025-01-08廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商瀏覽量：6778
VMU-V三豐Mitutoyo視像顯微鏡裝置VMU-V

三豐Mitutoyo視像顯微鏡裝置VMU-V ? 緊湊輕量型顯微鏡，相機觀察型。適于檢測金屬表面、半導體、液晶面板、樹脂等。 ? 多種鏡體通常用作適用于專業(yè)器械的 OEM（原廠委制）產(chǎn)品，如那些利用 YAG （近紅外、可見、近紫外或紫外）激光 * 對半導體晶片進行檢測和修補的設(shè)備。* 不保證激光系統(tǒng)產(chǎn)品的性能和安全性。

更新日期：2025-01-08廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商瀏覽量：5289
FS70Z日本三豐378系列半導體檢測用顯微鏡FS70Z

日本三豐378系列半導體檢測用顯微鏡FS70Z ? 帶目鏡觀察的小巧顯微鏡單元。適于檢測金屬表面、半導體、液晶基板、樹脂等。 ? 多種顯微鏡鏡體通常用作適用于專業(yè)器械的 OEM（原廠委制）產(chǎn) 品，如那些利用YAG（近紅外、可見、近紫外或紫外）激光 *對半導體晶片進行檢測和修補的設(shè)備。* 不保證激光系統(tǒng)產(chǎn)品的性能和安全性。

更新日期：2025-01-08廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商瀏覽量：5366

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